为保证COC生产的良率，COC芯片在生产工艺过程中，需要经过老化筛选、芯片测试环节，葡京350vip官方网设计了老化系统和测试机，装载芯片的夹具兼容在老化抽屉和测试机的使用，在老化和测试工艺过程中可避免重复上下料，一站式完成COC芯片的生产。可同时支持1280颗芯片的老化，提高生产产能。

       

方案框图

COC芯片上料到夹具上，夹具放置在抽屉中，抽屉可插入单层老化箱中，多层老化箱可搭入机架，形成COC老化系统，实现对芯片的温度和加电控制，并通过老化软件实时监控老化数据。

老化之后的芯片，不需要从夹具上取下来，直接将夹具放到COC测试机上测试，COC测试机支持芯片的LIV扫描，通过测试软件可控制光谱仪，实现光谱测试。

方案特点

1. 极易操作：上料采用导向槽操作，对于小尺寸产品上料简单、容易、安全

2. 独立的“抽屉式”：每个抽屉可适用于不同封装的产品，只需要更换底部夹具，抽屉式设计确保整体温度均匀性良好

3. EOS防护：采取缓加电、缓下电方式，做了各种异常上电、下电的防护，使老化测试过程的COC芯片安全

4. 异常电源保护：内置UPS，保证异常断电时客户chip的安全

5. 数据库存储：外置电脑，一套软件监控一台设备，过程数据存储于本地或者服务器数据库

6. 精准LIV测试：TEC精准控温下支持chip的LIV快速测试以及光谱测试

方案详情

方案配置主要由COC老化系统（PSS COC-BI-S-I）和测试机（PSS COCT2000）组成，老化系统由机架（PSS COCW2010）和单层老化箱（PSS COCL004）组成，夹具单独配置，支持定制，可联系销售人员。

老化系统和测试机分别设计了上位机软件，界面分别如下：

COC老化软件界面可显示10层*4抽屉的老化进度、老化温度，点击每个抽屉，可展开32颗芯片的老化电流、电压、背光电流数据、阈值结果；软件可记录操作过程日志以及所发生的异常。

COC测试软件支持定位每颗芯片位置，自动完成LIV扫描以及光谱测试，满足温度，扫描电流等参数的配置，支持本地或服务器存储数据，方便分析。